La Escuela de Ingeniería de Materiales adquirió recientemente un microscopio electrónico de barrido, conocido también como SEM por su nombre en inglés, Scanning Electron Microscopy. Este equipo permite ampliar los objetos o muestras que se observan a un tamaño mucho mayor que su tamaño real, y produce imágenes de alta resolución y fidelidad, que hacen más fácil examinar las características cercanas al mismo.
Este microscopio no es de uso exclusivo de la Escuela, sino que está al servicio de los investigadores del Programa de Doctorado en Ingeniería que lo requieran.
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